革新的で信頼性の高い産業ソリューション向けのフルスペクトル OES 分光計
W4 発光分光分析装置 (アーク/スパーク-OES) 経済的で簡単な金属分析装置 仕様: 高解像度 CMOS 読み出しシステム 低い総所有コスト 真空光学により高速化が可能
説明
基本情報
モデル番号。 | W4 |
起源 | 江蘇無錫 |
生産能力 | 30セット/月 |
製品説明
W4 発光分光分析装置 (アーク/スパーク-OES) 経済的で簡単な金属分析装置
仕様: 高解像度 CMOS 読み出しシステム 低い総所有コスト 迅速な安定化を可能にする真空光学系 比類のない分析性能と信頼性 優れた長期安定性 インテリジェントな設計、モジュラー設計 鉄および非鉄アプリケーション フル PC 制御で使いやすい フレンドリーなユーザー インターフェイス まとめ: W4 分光計は測定に最適な機器です異なるマトリックス (Fe、Cu、Al、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag など) 内のさまざまな元素の混合物。 これは、炉近くでの迅速な分析、金属材料の品質分析、研究室および金属グレードの識別のための経済的で簡単なソリューションです。これにより、ユーザーは使いやすく、スペースを節約しやすい真に経済的な分光計も得られます。 光学システムは、すべての典型的な材料をカバーするスペクトル範囲を持つ CMOS 検出器を使用します。 低濃度元素から高含有元素まで正確かつ確実に分析できます。用途:100PPM程度のニーズやC、Cr、S、Pなどの元素が必要な製鉄所。圧延機、鋳物工場、作業場:迅速分析; 毎日数百のサンプルをテスト合金メーカー: 任意の数の塩基/マトリックス。 非常に安定しており、正確な試験機関: 商業試験機関、大学、炉近くでの迅速な分析が必要な工場倉庫の材料識別ベース: Fe、Cu、Al、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag などパラメータ:
アイテム | 索引 | |
光学系 | 焦点距離 | 350mm |
波長範囲 | 165nm~589nm(拡張可能) | |
検出器 | 高解像度CMOSマルチ検出器 | |
ライトチャンバー | アルゴンサイクル充填 | |
ピクセル解像度 | 午後30時 | |
格子線 | 3600m1/mm | |
一次スペクトル線分散は稀 | 1.2nm/mm | |
平均解像度比 | 午後10時/ピクセル | |
フルスペクトル | ||
光室温度は自動制御されます | ||
スパークソース | タイプ | デジタルアークとスパーク源 |
火花周波数 | 100-1000HZ | |
放電電流 | 1-400A | |
点火電圧 | >15000V | |
励起光 | 放電パラメータ設計の最適化 | |
高エネルギー予燃焼技術 HEPS | ||
プロセッサー | 高速なデータ同期取得と処理 | |
スパークスタンド | 電極 | |
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